取消
清空記錄
歷史記錄
清空記錄
歷史記錄
瀏覽器自帶分享功能也很好用哦~?FEl Talos F200X 的創(chuàng)新功能可提高通量、精度與易用性，非常適合學(xué)術(shù)界、**和工業(yè)研究環(huán)境中的高級(jí)研究與分析。
在線客服
客服一
FEl Talos? F200X掃描/透射電子顯微鏡(S/TEM) 可提供*快、*準(zhǔn)確且量化的多維度納米材料表征。
FEl Talos F200X 的創(chuàng)新功能可提高通量、精度與易用性，非常適合學(xué)術(shù)界、**和工業(yè)研究環(huán)境中的高級(jí)研究與分析。
產(chǎn)品特點(diǎn):
●更好的圖像數(shù)據(jù):
配備同步多重信號(hào)檢測(cè)的高通量STEM 成像可實(shí)現(xiàn)更好的對(duì)比度，
●從而可提供高質(zhì)量圖像
更短的化學(xué)成分?jǐn)?shù)據(jù)生成時(shí)間:
快速、精確且量化的 EDS 分析 可揭示納米級(jí)細(xì)節(jié)
●為擴(kuò)大應(yīng)用提供空間:
添加特定于應(yīng)用的原位樣品桿以開展動(dòng)態(tài)實(shí)驗(yàn)
●更高的穩(wěn)定性:
采用儀器罩和遠(yuǎn)程操作來提高環(huán)境***
FEl Talos? F200X掃描/透射電子顯微鏡(S/TEM) 可提供*快、*準(zhǔn)確且量化的多維度納米材料表征。
FEl Talos F200X 的創(chuàng)新功能可提高通量、精度與易用性，非常適合學(xué)術(shù)界、**和工業(yè)研究環(huán)境中的高級(jí)研究與分析。
產(chǎn)品特點(diǎn):
●更好的圖像數(shù)據(jù):
配備同步多重信號(hào)檢測(cè)的高通量STEM 成像可實(shí)現(xiàn)更好的對(duì)比度，
●從而可提供高質(zhì)量圖像
更短的化學(xué)成分?jǐn)?shù)據(jù)生成時(shí)間:
快速、精確且量化的 EDS 分析 可揭示納米級(jí)細(xì)節(jié)
●為擴(kuò)大應(yīng)用提供空間:
添加特定于應(yīng)用的原位樣品桿以開展動(dòng)態(tài)實(shí)驗(yàn)
●更高的穩(wěn)定性:
采用儀器罩和遠(yuǎn)程操作來提高環(huán)境***
